Irradiance-dependent depth profiling of layered materials using laser-induced plasma spectrometry

  1. Mateo, M.P.
  2. Vadillo, J.M.
  3. Laserna, J.J.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477

Año de publicación: 2001

Volumen: 16

Número: 11

Páginas: 1317-1321

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/B104440K GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus