Irradiance-dependent depth profiling of layered materials using laser-induced plasma spectrometry

  1. Mateo, M.P.
  2. Vadillo, J.M.
  3. Laserna, J.J.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477

Ano de publicación: 2001

Volume: 16

Número: 11

Páxinas: 1317-1321

Tipo: Artigo

DOI: 10.1039/B104440K GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus