Line-focused laser ablation for depth-profiling analysis of coated and layered materials

  1. Mateo, M.P.
  2. Cabalín, L.M.
  3. Laserna, J.
Revista:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Año de publicación: 2003

Volumen: 42

Número: 30

Páginas: 6057-6062

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/AO.42.006057 GOOGLE SCHOLAR
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