Hierarchical radiosity for multiresolution systems based on normal tests
- Padron, E.J.
- Amor, M.
- Bóo, M.
- Doallo, R.
ISSN: 0010-4620, 1460-2067
Ano de publicación: 2010
Volume: 53
Número: 6
Páxinas: 741-752
Tipo: Artigo
Revista:
Computer Journal